(19)中华 人民共和国 国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202111555492.7 (22)申请日 2021.12.17 (71)申请人 广州极飞科技股份有限公司 地址 510000 广东省广州市天河区高普路 115号C座 (72)发明人 余棋烽　 (74)专利代理 机构 北京超凡宏宇专利代理事务 所(特殊普通 合伙) 11463 代理人 戴尧罡 (51)Int.Cl. G06F 30/20(2020.01) (54)发明名称 天线透镜生产参数确定方法、 装置和计算机 设备 (57)摘要 本申请提供一种天线透镜生产参数确定方 法、 装置、 计算机设备和计算机可读存储介质， 属 于计算机技术领域。 所述方法包括： 通过设定的 天线透镜参数函数基于天线透镜的至少一个结 构参数， 处理得到用于表征天线基于目的天线馈 源通过天线透镜发射出的仿真电磁波和所述仿 真电磁波对应的窄波方向数据， 其中， 所述窄波 方向数据包括所述仿真电磁波的波束宽度； 在所 述仿真电磁波的类型为平面波且当前波束宽度 符合第一预设宽度的情况下， 确定当前天线透镜 参数函数中的结构参数为用于生产所述天线透 镜的生产参数。 可以提升天线透镜对电磁波的波 束收窄效果。 权利要求书3页 说明书18页 附图7页 CN 114254504 A 2022.03.29 CN 114254504 A 1.一种天线透 镜生产参数确定方法， 其特 征在于， 包括： 通过设定的天线透镜参数函数基于天线透镜的至少一个结构参数， 处理得到用于表征 天线基于目的天线馈源通过天线透镜发射出的仿真电磁波和所述仿真电磁波对应的窄波 方向数据， 其中， 所述 窄波方向数据包括所述仿真电磁波的波 束宽度； 在所述仿真电磁波的类型为平面波且当前波束宽度符合第 一预设宽度的情况下， 确定 当前天线透 镜参数函数中的结构参数为用于生产所述天线透 镜的生产参数。 2.如权利要求1所述的天线透镜生产参数确定方法， 其特征在于， 所述仿真电磁波的类 型为平面波且所述在当前波束宽度符合第一预设宽度的情况下， 确定 当前天线透镜参数函 数中的结构参数为用于生产所述天线透 镜的生产参数， 包括： 在所述仿真电磁波的类型为平面波且当前所述波束宽度符合所述第一预设宽度的情 况下， 在所述第一预设调整范围内调整所述天线透镜参数函数中的至少一个结构参数， 以 使得当前 所述波束宽度符合第二预设宽度； 在当前波束宽度符合第 二预设宽度时， 确定当前所述天线透镜参数函数中的结构参数 为用于生产所述天线透 镜的生产参数。 3.如权利要求1或2所述的天线透 镜生产参数确定方法， 其特 征在于， 所述方法还 包括： 在所述仿真电磁波的类型为平面波且当前波束宽度不符合所述第一预设宽度的情况 下， 在第二预设调整范围内调整所述天线透镜参数函数中的至少一个结构参数， 以使得所 述天线透镜参数函数基于调整后的结构参数处理得到的波束宽度符合所述第一预设宽度、 且所述仿真电磁波的类型保持为平面波。 4.如权利要求1或2所述的天线透镜生产参数确定方法， 其特征在于， 所述至少一个结 构参数还 包括所述天线透 镜的高度； 所述方法还 包括： 在所述仿真电磁波的类型为球面波且所述波束宽度不符合所述第一预设宽度的情况 下， 在第二预设调整范围内调整所述天线透镜参数函数中的至少一个结构参数， 以使得所 述天线透镜参数函数基于调整后的结构参数处理得到的波束宽度符合所述第一预设宽度、 且仿真电磁波的类型为平面波。 5.如权利要求1或2所述的天线透镜生产参数确定方法， 其特征在于， 所述窄波方向数 据还包括副波瓣高度； 在确定当前所述天线透镜参数函数中的结构参数为用于生产所述天线透镜的生产参 数之后， 所述方法还 包括： 确定当前仿真电磁波的副波瓣高度是否符合预设高度范围； 在当前仿真电磁波的副波瓣高度符合所述预设高度 范围的情况下， 确定所述生产参数 为目标生产参数。 6.如权利要求5所述的天线透 镜生产参数确定方法， 其特 征在于， 所述方法还 包括： 在当前仿真电磁波的副波瓣高度不符合所述预设高度范围的情况下， 在第 三预设调整 范围内调整当前天线透镜参数函数中的所述至少一个结构参数和至少一个校正系数， 以使 得所述副波瓣高度符合所述预设高度范围； 其中， 所述至少一个结构参数还包括天线透镜 的焦距， 所述校正系数包括所述天线透 镜的曲面曲率系数。 7.如权利要求1 ‑6任一项所述的天线透镜生产参数确定方法， 其特征在于， 所述天线透权　利　要　求　书 1/3 页 2 CN 114254504 A 2镜为一个实心的曲面体透 镜。 8.如权利要求1 ‑6任一项所述的天线透镜生产参数确定方法， 其特征在于， 所述天线透 镜参数函数用于表征天线透镜横截面外轮廓的曲线， 且包括以下参数： 所述天线透镜的透 镜高度、 所述天线透 镜的底部半径、 所述天线透 镜的曲面曲率系数、 所述天线透 镜的焦距。 9.一种天线透 镜生产参数确定装置， 其特 征在于， 所述装置包括： 处理模块， 用于通过设定的天线透镜参数函数基于天线透镜的至少一个结构参数， 处 理得到用于表征天线基于目的天线馈源通过天线透镜发射出的仿真电磁波和所述仿真电 磁波对应的窄波方向数据； 确定模块， 用于在所述仿真电磁波的类型为平面波且当前波束宽度符合第 一预设宽度 的情况下， 确定当前天线透镜参数函数中的结构参数为用于生产所述天线透镜的生产参 数。 10.一种计算机设备， 其特征在于， 包括： 存储器、 处理器， 所述存储器中存储有可在所 述处理器上运行的计算机程序， 所述处理器执行所述计算机程序时， 实现上述权利要求 1至 8任一项所述的方法的步骤。 11.一种计算机可读存储介质， 其特征在于， 所述计算机可读存储介质上存储有计算机 程序， 该计算机程序被处 理器执行时， 实现权利要求1至8中任一项所述的方法的步骤。 12.一种雷达装置， 其特 征在于， 所述雷达装置包括： 发射天线； 接收天线； 以及， 天线罩， 所述天线罩设于所述发射天线以及所述接收天线外， 所述天线罩上设置有所 述天线透镜， 所述天线透镜 设置于所述 发射天线和所述接收天线中的至少一个的辐射路径 上； 其中， 所述天线透镜的结构参数通过权利要求1 ‑8任一项所述的天线透镜生产参数确 定方法确定得到 。 13.如权利要求12所述的雷达装置， 其特征在于， 所述天线透镜的数量包括两个， 两个 所述天线透 镜一一对应地设置 于所述发射天线和所述接收天线的辐射路径上。 14.如权利要求12所述的雷达装置， 其特征在于， 所述天线透镜的表面轮廓 为非球面的 曲面。 15.如权利要求12 ‑14任一项所述的雷达装置， 其特征在于， 所述天线透镜的焦距f为 1.95mm±50％， 所述天线透镜的透镜高度h为7.8mm ±50％， 所述天线透镜的底部半径r为 7.8mm±50％。 16.如权利要求12所述的雷达装置， 其特征在于， 两个所述天线透镜分别为第 一天线透 镜和第二天线透 镜； 所述第一天线透镜设置于所述发射天线的辐射路径上， 所述第 一天线透镜与 所述发射 天线的距离等于所述第一天线透 镜的焦距； 所述第二天线透镜设置于所述接收天线的辐射路径上， 所述第 二天线透镜与 所述接收 天线的距离等于所述第二天线透 镜的焦距。 17.如权利要求12所述的雷达装置， 其特征在于， 两个所述天线透镜分别为第 一天线透 镜和第二天线透 镜；权　利　要　求　书 2/3 页 3 CN 114254504 A 3